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05_Chip-Probing(圖)

晶圓測試 Wafer Probing Testing

Wafer Probing Testing

整合多樣測試平台於8", 12"晶圓 與 frame prober 之測試服務,將封裝的管制帶進測試,具有絕佳的particle bin 控制,廣泛服務於消費性、工業用與醫療市場之客戶。

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